Polished Single Crystal Silicon Wafer for SEM AFM XRD, Square Si Wafer Substrate Laboratory Analysis Wafer (8x8mm SSP 0.01mm)
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Polished Single Crystal Silicon Wafer for SEM AFM XRD, Square Si Wafer Substrate Laboratory Analysis Wafer (8x8mm SSP 0.01mm)
Numéro d'article: 234959320

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Détails du produit

Shop Polished Single Crystal Silicon Wafer for SEM AFM XRD, Square Si Wafer Substrate Laboratory Analysis Wafer (8x8mm SSP 0.01mm) online at a best price in Djibouti. B0G1G8TN3Z
  • High-Purity Monocrystalline Silicon Substrate:Manufactured from single crystal silicon with stable crystal structure and uniform material properties, suitable for scientific and laboratory applications.
  • Precision Single-Side Polished Surface:One side is mirror-polished to provide a smooth and flat surface ideal for coating, surface analysis, and microscopic observation.
  • Wide Size Range for Flexible Applications:Available in multiple square sizes from 1×1mm to 50×50mm to meet different experimental and research requirements.
  • Compatible with SEM AFM XRD Analysis:Widely used in scanning electron microscopy (SEM), atomic force microscopy (AFM), and X-ray diffraction (XRD) research applications.
  • Ideal for Research and Laboratory Use:Commonly used as a substrate for thin film deposition, materials science research, and academic laboratory demonstrations.

Product Technical Details

Package Dimensions‎5 x 5 x 5 inches
Item Weight‎8 ounces
Manufacturer‎XUSILAOK
Item model number‎8x8mm SSP ±0.01mm

DESCRIPTION DU PRODUIT

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Questions et réponses des clients

  • question: What sizes are available for the silicon wafers?

    répondre: Sizes range from 1mm to 50mm and can be customized to fit your needs.
  • question: What thicknesses can be customized?

    répondre: Standard thicknesses include 525um, 625um, and 725um, with options for further customization.
  • question: Which applications are suitable for these silicon wafers?

    répondre: They are ideal for scanning electron microscopy, atomic force microscopy, X-ray diffraction, and other research applications.

XUSILAOK Crystals ‎8x8mm SSP ±0.01mm Editorial Review

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“Accurate delivery timing given”

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Caractéristiques et avantages

  • High-quality single-sided polished silicon wafers available in customizable sizes from 1mm to 50mm.
  • Manufactured using advanced Czochralski (CZ) and zone-melted (FZ) crystal growth methods.
  • Available thicknesses include standard options (525um, 625um, 725um) with customization available.
  • Doping types include N-type and P-type for various electrical properties.
  • Designed for compatibility with SEM, AFM, and XRD applications.
  • Perfect for materials research, surface characterization, and experimental demonstrations.

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